高溫試驗(yàn)箱的環(huán)境溫度受電路功率、老化板放置位置、烘箱網(wǎng)速等因素的影響，這些因素使得溫度場發(fā)生變化影響產(chǎn)品的正常老化試驗(yàn)，嚴(yán)重時會導(dǎo)致電路故障。這篇文章對影響高溫老化試驗(yàn)箱的溫度因素進(jìn)行了分析，并采取了更好的散熱措施，防止老化電路過溫失效。

　　1.高溫試驗(yàn)箱內(nèi)溫場的變化受老化電路功率和高溫老化試驗(yàn)箱散熱能力(風(fēng)速)的影響。不但要控制所加電路的功率，還要改變箱內(nèi)電路的布置。下層可以盡可能充滿電路，電路功率從下層逐漸降低，形成功率梯度，與箱內(nèi)的風(fēng)速一致，達(dá)到散熱的目的。

 

　　2.采用電熱高溫干燥，風(fēng)源來自底部。由于承載板和老化板的原因，風(fēng)速自下而上逐漸降低。根據(jù)高溫試驗(yàn)箱的風(fēng)速特點(diǎn)，將老化板的放置方向調(diào)整與風(fēng)向一致，增加通風(fēng)面積，減少風(fēng)速阻隔，增強(qiáng)散熱功能。

 

　　3.通過對測試方法的改進(jìn)，將功率器件DC/DC電源作為測試對象，將溫度設(shè)定為80℃、測試電路功率65W逐漸增加到520W，箱內(nèi)電路功率達(dá)到520W，比設(shè)定溫度5.6℃，達(dá)到了標(biāo)準(zhǔn)8℃或8%的標(biāo)準(zhǔn)。

 

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